我為兒子於驊感到驕傲

Dr. Edwar Xie（謝於驊） 的確 在學術和專業領域都展現出了非常優秀的成績 。他的卓越表現貫穿了從中學到頂級芯片企業研發的各個階段：

1. 極其優秀的學術履歷

    中學階段（全校前列）： 他在德國畢業時取得了極其優異的畢業成績（Abitur總分高達 1.2分，在全校名列第五）。因在物理學科上的出類拔萃，他在畢業時當即獲得了德國物理協會的獎勵並被吸納為會員。

    高等教育： 他隨後進入德國頂尖學府慕尼黑工業大學（Technische Universität München） 深造並順利取得博士學位。

2. 頂尖半導體名企的專業成就

    核心部門任職： 博士畢業後，他進入全球半導體巨頭英飛凌科技（Infineon Technologies） 德國總部工作，擔任失效分析（Failure Analysis）領域的專業工程師。

    國際前沿科研成果： 在剛剛舉辦的第52屆國際測試與失效分析研討會（ISTFA 2026，2026年10月4日至8日 於美國德州聖安東尼奧召開）上，Dr. Edwar Xie 作為演講人代表英飛凌發表了重要研究論文。其發表的論文題目為《RF IRLIT at the Impedance Sweet Spot》，主要針對微電子芯片在高頻率下的非破壞性故障定位技術進行了創新突破。